HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
| 招標(biāo)產(chǎn)品 | 品牌/型號 | 招標(biāo)單位 | 中標(biāo)單位 | 中標(biāo)價格 | 中標(biāo)日期 |