多角度激光橢偏儀 SE400advanced使用632.8nm波長HeNe激光器,對測量薄膜厚度,折射率和吸收系數(shù)有非常出色的精度。 SE400advanced能夠分析單層膜,多層膜和大塊材料(基底)
? 超高精度和穩(wěn)定性,來源于高穩(wěn)定激光光源、溫度穩(wěn)定補償器設置、起偏器跟蹤和超低噪聲探測器
? 高精度樣品校準,使用光學自動對準鏡和顯微鏡
? 快速簡易測量,可選擇不同的應用模型和入射角度
? 多角度測量,可完全支持復雜應用和精確厚度
? **的預設應用,包含微電子、光電、磁存儲、生命科學等領域
規(guī)格:
? 激光波長632.8 nm
? 150 mm (z-tilt) 載物臺
? 入射角度可調,步進5o
? 自動對準鏡/顯微鏡,用于樣品校準
? Small footprint
? 以太網(wǎng)接口連接到PC
| 招標產(chǎn)品 | 品牌/型號 | 招標單位 | 中標單位 | 中標價格 | 中標日期 |