一、用途:
TMM-302 DIC微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點,是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
二、系統(tǒng)簡介
本系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計算機(數(shù)碼相機)技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。不僅可以在計算機(數(shù)碼相機)顯示屏上實時觀察,并能對所需要的圖片進行編輯、保存和打印。