編輯日期：2026-03-30

VM4800M三目正置大平臺(tái)金相顯微鏡采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，儀器配有偏光裝置可實(shí)現(xiàn)偏光觀察同時(shí)可選配暗裝置及微分干涉裝置。儀器緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，使操作更方便舒適，空間更廣闊，圖像清晰、襯度好。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。VM4800M可放大50-800倍。

VM4800M性能特點(diǎn)：

采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)成像清晰并配有直徑22mm的大視野目鏡

系統(tǒng)配置了大尺寸、大范圍移動(dòng)載物臺(tái)，適合大工件的檢查

兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置

配置了偏光裝置并可選配暗場(chǎng)、微分干涉裝置，拓展了功能